高低溫沖擊試驗箱與高低溫濕熱試驗箱作為環(huán)境可靠性測試的核心設(shè)備，在電子元器件、汽車電子等領(lǐng)域發(fā)揮著不可替代的作用。結(jié)合多年設(shè)備研發(fā)經(jīng)驗，小編對兩者的技術(shù)特性與應(yīng)用場景進行對比分析。

從工作原理來看，兩類設(shè)備均通過溫度交變試驗加速產(chǎn)品失效，但在實現(xiàn)方式上存在本質(zhì)差異：

1.溫度變化速率:

高低溫沖擊試驗箱要求在5min內(nèi)完成溫度沖擊，通常采用兩箱法或三箱法結(jié)構(gòu)。而高低溫濕熱試驗箱的溫變速率通常控制在 1-10℃/min，采用單箱體結(jié)構(gòu)，通過壓縮機制冷與電熱絲加熱實現(xiàn)溫濕度精準控制。

2.失效機理差異:

在BGA（球柵陣列）封裝器件測試中，高低溫沖擊主要誘發(fā)焊點拉伸疲勞失效，這與高低溫沖擊試驗箱產(chǎn)生的急劇熱應(yīng)力直接相關(guān)。我們曾對某車載電子控制器模塊進行測試，發(fā)現(xiàn)經(jīng)1000次冷熱沖擊（-40℃～125℃，駐留 15min）后，QFN（方形扁平無引腳）封裝出現(xiàn)引腳斷裂的比例高達23%。而高低溫濕熱試驗箱進行的溫度循環(huán)試驗（-40℃～85℃,1℃/min）更易引發(fā)材料CTE（ 熱膨脹系數(shù)）失配導(dǎo)致的剪切蠕變，某航天級連接器經(jīng)500次循環(huán)后出現(xiàn)密封失效即屬此類情況。

3.設(shè)備結(jié)構(gòu)設(shè)計:

溫度沖擊試驗箱采用水冷散熱式制冷系統(tǒng)，搭配150L不銹鋼內(nèi)膽提升抗熱應(yīng)力性能，溫度沖擊恢復(fù)時間 ≤ 5分鐘。高低溫濕熱試驗箱則更注重溫場均勻性，通過優(yōu)化風(fēng)道設(shè)計，可將試驗箱的溫度偏差控制在±2℃ 以內(nèi)。

應(yīng)用選擇:

在應(yīng)用選擇方面建議遵循以下原則：

高低溫沖擊試驗通常應(yīng)用于元器件篩選；

高低溫濕熱試驗箱通常應(yīng)用于“環(huán)境適應(yīng)性測試"。