高低溫試驗(yàn)箱適用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高低溫環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，以及溫度漸變試驗(yàn)。還可以對電子元器件進(jìn)行應(yīng)力篩選試驗(yàn)。

    對下面溫度參數(shù)項(xiàng)目的定義進(jìn)行 分析，便可看出依據(jù)不同標(biāo)準(zhǔn)確認(rèn)高低溫試驗(yàn)箱性能結(jié)果的差異。

1.標(biāo)準(zhǔn)GB/T 5170.2的2008版本中的定義：試驗(yàn)箱穩(wěn)定狀態(tài)下，在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)，工作空間內(nèi)任意一點(diǎn)溫度歲時(shí)間的變化量。

2.標(biāo)準(zhǔn)GB/T 10592的2008版本中的定義：穩(wěn)定后，在給定的任意時(shí)間間隔內(nèi)，工作空間任意一點(diǎn)的高和低溫度之差。

3.標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2424.5的2006版本中的定義：穩(wěn)定后，在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)，工作空間中任一點(diǎn)的高和低溫度之差。